封测效劳
sungame科技半导体封测一站式效劳商
失效剖析与可靠性测试

sungame科技接纳先进装备,为客户提供系统的可靠性测试及失效剖析。
对封装产品举行MSL/THT(温湿度贮存)、PCT(高温蒸煮)、HTST(高温贮存)、HAST(强加速应力试验)、TCT(温度循环)、Solderability(可焊性)等六大类性能举行测试。
同时,针对封装测试中的问题,充分使用SAT、DECAP、X-RAY等10项FA手艺,确定失效缘故原由,以便接纳有用的纠正步伐,增强产品可靠性,包管产品质量。

  • Laser De-cap
  • SEM
  • Probe test
  • SAT
  • 3D X-RAY
  • lon Milling System
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